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Metrologia是工程技術(shù)領(lǐng)域的一本優(yōu)秀期刊。由IOP Publishing Ltd.出版社出版。該期刊主要發(fā)表工程技術(shù)領(lǐng)域的原創(chuàng)性研究成果。創(chuàng)刊于1965年，該期刊主要刊載工程技術(shù)-物理：應(yīng)用及其基礎(chǔ)研究的前瞻性、原始性、首創(chuàng)性研究成果、科技成就和進(jìn)展。該期刊不僅收錄了該領(lǐng)域的科技成就和進(jìn)展，更以其深厚的學(xué)術(shù)積淀和卓越的審稿標(biāo)準(zhǔn)，確保每篇文章都具備高度的學(xué)術(shù)價(jià)值。此外，該刊同時(shí)被SCIE數(shù)據(jù)庫(kù)收錄，并被劃分為中科院SCI3區(qū)期刊，它始終堅(jiān)持創(chuàng)新，不斷專(zhuān)注于發(fā)布高度有價(jià)值的研究成果，不斷推動(dòng)工程技術(shù)領(lǐng)域的進(jìn)步。
同時(shí)，我們注重來(lái)稿文章表述的清晰度，以及其與我們的讀者群體和研究領(lǐng)域的相關(guān)性。為此，我們期待所有投稿的文章能夠保持簡(jiǎn)潔明了、組織有序、表述清晰。該期刊平均審稿速度為平均 偏慢,4-8周 。若您對(duì)于稿件是否適合該期刊存在疑慮，建議您在提交前主動(dòng)與期刊主編取得聯(lián)系，或咨詢本站的客服老師。我們的客服老師將根據(jù)您的研究?jī)?nèi)容和方向，為您推薦最為合適的期刊，助力您順利投稿，實(shí)現(xiàn)學(xué)術(shù)成果的順利發(fā)表。
| 大類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | 小類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 2區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
| 大類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | 小類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
| 大類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | 小類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
| 大類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | 小類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
| 大類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | 小類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
| 大類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | 小類(lèi)學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 2區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 2區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 38 / 76 |
50.7% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 109 / 179 |
39.4% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q3 | 46 / 76 |
40.13% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 106 / 179 |
41.06% |
| 學(xué)科類(lèi)別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類(lèi)：Engineering 小類(lèi)：General Engineering | Q2 | 128 / 307 |
58% |
| 年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
| 年發(fā)文量 | 107 | 128 | 108 | 100 | 179 | 97 | 111 | 92 | 80 | 82 |
| 國(guó)家/地區(qū) | 數(shù)量 |
| France | 156 |
| GERMANY (FED REP GER) | 131 |
| USA | 112 |
| CHINA MAINLAND | 105 |
| England | 94 |
| Japan | 85 |
| South Korea | 80 |
| Italy | 68 |
| Turkey | 59 |
| Russia | 49 |
| 機(jī)構(gòu) | 數(shù)量 |
| PHYSIKALISCH-TECHNISCHE BUNDESANSTALT (PTB) | 109 |
| NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS & TECHNOLOGY (NIST) - USA | 93 |
| KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS & SCIENCE (KRISS) | 75 |
| NATIONAL METROLOGY INSTITUTE OF JAPAN | 73 |
| NATIONAL PHYSICAL LABORATORY - UK | 73 |
| NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE & TECHNOLOGY (AIST) | 70 |
| NATIONAL INSTITUTE OF METROLOGY CHINA | 67 |
| ISTITUTO NAZIONALE DI RICERCA METROLOGICA (INRIM) | 56 |
| BUR INT POIDS & MESURES | 46 |
| TURKIYE BILIMSEL VE TEKNOLOJIK ARASTIRMA KURUMU (TUBITAK) | 43 |
| 文章名稱(chēng) | 引用次數(shù) |
| The CODATA 2017 values of h, e, k, and N-A for the revision of the SI | 50 |
| The CIPM list of recommended frequency standard values: guidelines and procedures | 31 |
| Data and analysis for the CODATA 2017 special fundamental constants adjustment | 30 |
| JILA SrI optical lattice clock with uncertainty of 2.0 x 10(-18) | 22 |
| Advances in the accuracy, stability, and reliability of the PTB primary fountain clocks | 22 |
| The revision of the SI-the result of three decades of progress in metrology | 19 |
| Applying principles of metrology to historical Earth observations from satellites | 12 |
| Shift evaluation of the atomic gravimeter NIM-AGRb-1 and its comparison with FG5X | 12 |
| Refractive-index gas thermometry | 11 |
| Quantum imaging with sub-Poissonian light: challenges and perspectives in optical metrology | 10 |
SCIE
影響因子 1.5
CiteScore 2.8
SCIE
影響因子 1.5
CiteScore 3.6
SCIE
CiteScore 8.9
SCIE
影響因子 0.5
CiteScore 1.8
SCIE
影響因子 2.2
CiteScore 6.5
SCIE
影響因子 0.4
CiteScore 2.2
SCIE SSCI
影響因子 4.1
CiteScore 7.1
SCIE SSCI
影響因子 0.9
CiteScore 1.5
SCIE SSCI
影響因子 12.5
CiteScore 22.1
SCIE
影響因子 4.5
CiteScore 8.1
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