Surface Topography-metrology And Properties SCIE

Surface Topography-metrology And Properties是材料科學領域的一本優秀期刊。由IOP Publishing Ltd.出版社出版。該期刊主要發表材料科學領域的原創性研究成果。創刊于2013年，該期刊主要刊載Materials Science-Materials Chemistry及其基礎研究的前瞻性、原始性、首創性研究成果、科技成就和進展。該期刊不僅收錄了該領域的科技成就和進展，更以其深厚的學術積淀和卓越的審稿標準，確保每篇文章都具備高度的學術價值。此外，該刊同時被SCIE數據庫收錄，并被劃分為中科院SCI3區期刊，它始終堅持創新，不斷專注于發布高度有價值的研究成果，不斷推動材料科學領域的進步。

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